Оборудование
  • Zeiss Libra 200FE

    Просвечивающий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом, энергетическим ОМЕГА фильтром, системой освещения по Кёлеру (запатентовано Carl Zeiss SMT) – микроскоп спроектирован для работы с высоким разрешением.

  • Zeiss ORION

    Появление сканирующего ионного микроскопа является новым этапом в развитии сканирующей микроскопии, характеризующимся получением субнанометрового разрешения. Благодаря минимально возможному размеру источника ионов, который представляет собой одиночный атом вольфрама, теоретический предел разрешения составляет 0,25 нм.

  • Zeiss Merlin

    Zeiss Merlin - сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом, колонной электронной оптики GEMINI-II.

  • Zeiss Supra 40VP

    Сканирующий электронный микроскоп Zeiss SUPRA 40VP, установленный в МРЦ "Нанотехнологии", является уникальным аналитическим комплексом исследования поверхности благодаря широкому набору дополнительных детекторов и приставок.

  • Zeiss AURIGA Laser

    Рабочая станция Auriga Laser с пересекающимися ионным и электронным пучками дополнительно укомплектована твердотельным лазером.

  • Evex Mini-SEM

    Настольный сканирующий электронный микроскоп Evex Mini-SEM SX-3000

  • Комплекс пробоподготовки

    Комплекс пробоподготовки, развернутый в лаборатории МРЦ по направлению "Нанотехнологии", включает системы прецизионного ионного травления и напыления (Gatan PECS, Gatan PIPS, Fischione NanoMill), а также приборы, позволяющие проводить полный цикл пробоподготовки для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.

  • Оптическая микроскопия

    Оптические (световые) микроскопы, оснащенные набором дополнительных приставок.