Энергодисперсионный детектор рентгеновского излучения Oxford Instruments INCA x-act 

Система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа Oxford Instruments INCAx-act, благодаря детектору большой площади и высокой чувствительности, позволяет производить экспресс-анализ элементного состава образцов даже при  малых токах пучка, 200-300 пикоампер. Таким образом, при анализе сохраняется высокое разрешение при одновременной регистрации SE-изображений, наносится минимальный ущерб исследуемому объекту.

Особенности:

  • Детектор: аналитический твердотельный  дрейфовый детектор (SDD) , соответствующий  стандарту ISO 15632:2002
  • Охлаждение: элемент Пельтье
  • Автоматическое определение пиков
  • Четыре режима набора спектров
  • Количественный анализ
  • Построение карт распределения элементов по плоскости (SmartMap)

Параметры:

  • Определяемые элементы: от бериллия (Be) до плутония (Pu)
  • Гарантированное разрешение: 60 эВ на C Kα  и  130 эВ на Mn Kα
  • Стабильность позиции пика: менее 1 эВ на Mn Kα
  • Стабильность разрешения: менее 1 эВ на Mn Kα  при 1000-100000 имп/сек
  • Чувствительность к концентрации: менее 0,1%

 Программное обеспечение:

Пакет INCA Energy

Сканирующий зондовый микроскоп NT-SPb ProBeam

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) NT-SPb ProBeam предназначен для изучения и модификации поверхности твёрдых образцов в нанометровом диапазоне линейных размеров, адаптирован для совместной работы в составе сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) Zeiss Supra 40VP.

Подробнее...