Новости

Поздравляем!

Печать

Научная работа "Electrical levels of dislocation network in p- and n-type silicon" магистранта кафедры электроники твердого тела физического факультета СПбГУ Ивана Исакова по результатам, полученным на оборудовании МРЦ-НТ, на международной конференции по протяженным дефектам в полупроводниках EDS-2010 была признана лучшей среди докладов молодых ученых и отмечена премией Гельмута Александра (Helmut Alexander).

Желаем Ивану дальнейших научных успехов!

 

Успешно установлен STEM-детектор на РЭМ Supra 40VP

Печать

На сканирующем электронном микроскопе Supra 40VP успешно завершена установка нового детектора для работы в режиме растровой просвечивающей микроскопии (STEM).

 

Дистрибутив SmartTIF

Печать

Зарегистрированные пользователи МРЦ-НТ могут получить дистрибутив бесплатной программы для обработки изображений с растровых электронных микроскопов Carl Zeiss SmartTIF.

Программа позволяет проводить измерения на изображениях, добавлять аннотации, строить профили контраста и пр.

За дистрибутивом обращайтесь в МРЦ.

 

Открыт форум МРЦ-НТ

Печать

Внимание! Открыт форум Междисциплинарного Ресурсного Центра по направлению Нанотехнологии. Для участия в форуме необходимо пройти процедуру регистрации на нашем сайте.

 

Конференция STRANN-2009 завершилась

Печать

Международная научная конференция "Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения" STRANN-2009 завершилась.
 
За два дня в работе конференции приняли участие 98 человек из 12 российских и 5 зарубежных научных центров.
Было представлено 25 докладов по различным направлениям исследований.

Фотоотчет о конференции

 

Окончена регистрация участников конференции STRANN-2009

Печать

Завершена регистрация участников международной конференции STRANN-2009. Пожалуйста, обращайтесь по всем возникающим вопросам в оргкомитет конференции Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript .

 


Страница 4 из 6